由日本京都大學科研人員負責的產學協同軟錯誤研究團隊，開發了一種可使用不同中子源獲取半導體軟錯誤率的方法。

軟錯誤率一般通過在地面上再現宇宙射線環境的特殊中子源進行實驗評估。而該方法則是通過將任意中子源的1個測量結果和數值模擬進行組合求得軟錯誤率。科研人員使用來自3個設施的7種類型中子源的測量值和高能粒子與重離子運動分析代碼程序PHITS（Particle and Heavy Ion Transport code System）評估軟錯誤率，驗證了該方法的有效性。采用這種方法，科研人員可以使用大量的通用中子源來評估軟錯誤率，滿足日益增長的軟錯誤率評估需求。相關研究成果發表于國際學術期刊《IEEE Transactions on Nuclear Science》。

本文摘自國外相關研究報道，文章內容不代表本網站觀點和立場，僅供參考。

知前沿，問智研。智研咨詢是中國一流產業咨詢機構，十數年持續深耕產業研究領域，提供深度產業研究報告、商業計劃書、可行性研究報告及定制服務等一站式產業咨詢服務。專業的角度、品質化的服務、敏銳的市場洞察力，專注于提供完善的產業解決方案，為您的投資決策賦能。