韓國科學技術院（KAIST）科研團隊開發出一種超高速照相測量技術，通過將脈沖寬度為100飛秒（1/1000萬億分之一秒）的光脈沖分成大約1000種顏色，并使用不同顏色的脈沖來精確測量像素之間的高低差，在0.26GPixel/S像素填充率下的測量精度為330pm，能夠捕捉到半導體元器件中的微觀運動和結構，有助于探索此前從未觀察到的復雜物理現象。

科研團隊表示，該測量技術僅需3.47ms即可測量分辨率為1024x882像素、寬度為6.4mm、高度為2.4mm的區域，下一步將繼續優化提高該技術的檢測速度。此項研究成果發表在國際期刊《Light：Science and Application》上。

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